18.08.2012 - 14.10.2012
Das Nachwuchsförderungsprojekt für junge deutsche Fotografie "gute aussichten" besteht seit 2004. Im jährlichen Wettbewerb werden Abschlussarbeiten von deutschen Hochschulen, Fachhochschulen und Akademien für Fotografie durch eine namhafte Jury prämiiert. Die Gewinnerinnen und Gewinner werden anschließend in Ausstellungen und Medien der Öffentlichkeit vorgestellt. Extra für das Museum für Angewandte Kunst in Köln und in enger Zusammenarbeit hat die langjährige Mitarbeiterin von "gute aussichten" und Jurymitglied Dr. Wibke von Bonin die Themenausstellung zusammengestellt. Präsentiert werden neue Arbeiten von Preisträgerinnen und Preisträger der Jahre 2004 bis 2011, die sich im weitesten Sinn mit den Themen Strukturen, Charakter, Form, Gefüge, Konstruktionen, Wesen, Gestalt usw., also dem Muster und seiner Erkennung, kurz der Mustererkennung auseinander gesetzt haben.
